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Optimization of ohmic contacts to n-type GaAs nanowires

机译:优化与n型Gaas纳米线的欧姆接触

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摘要

III-V nanowires are comprehensively studied because of their suitability foroptoelectronic quantum technology applications. However, their small dimensionsand the spatial separation of carriers from the wire surface render electricalcontacting difficult. Systematically studying ohmic contact formation bydiffusion to $n$-doped GaAs nanowires, we provide a set of optimal annealingparameters for Pd/Ge/Au ohmic contacts. We reproducibly achieve low specificcontact resistances of $\sim2\times10^{-7}\,\Omega\text{cm}^2$ at roomtemperature becoming an order of magnitude higher at $T\simeq4.2\,$K. Weprovide a phenomenological model to describe contact resistances as a functionof diffusion parameters. Implementing a transfer-matrix method, we numericallystudy the influence of the Schottky barrier on the contact resistance. Ourresults indicate that contact resistances can be predicted using variousbarrier shapes but further insights into structural properties would require afull microscopic understanding of the complex diffusion processes.
机译:由于III-V纳米线适用于光电量子技术应用,因此已对其进行了全面的研究。然而,它们的小尺寸以及载体与导线表面的空间分隔使得电接触变得困难。系统地研究了通过扩散到掺杂$ n $的GaAs纳米线而形成的欧姆接触,我们为Pd / Ge / Au欧姆接触提供了一组最佳退火参数。在室温下,我们可再现地实现$ \ sim2 \ times10 ^ {-7} \,\ Omega \ text {cm} ^ 2 $的低比接触电阻,从而在$ T \ simeq4.2 \,$ K时变得更高。我们提供了一种现象学模型,将接触电阻描述为扩散参数的函数。实施转移矩阵方法,我们数值研究了肖特基势垒对接触电阻的影响。我们的结果表明,可以使用各种势垒形状来预测接触电阻,但是对结构特性的进一步了解将需要对复杂的扩散过程有充分的微观了解。

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